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標題Title: 奈米量測技術 期末報告
作者Authors: 楊庭維
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2012-1-3
上傳者Author: 楊庭維
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 朱志良
檔案類型Categories: 課堂報告In-class Report
關鍵詞Keyword: TEM
摘要Abstract: 目前運用在奈米尺度下的檢測也已經發展了許多種類,因為奈米對現在巨觀的世界來說實在是極為微小,不是肉眼可以觀察到的,因此用我們目前的量測行為絕對無法達成,在奈米尺度下的檢測,幾乎都是使用旁推測敲的方法來判定的,目前較讓人比較容易了解的就是電子顯微鏡

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2012_1_54c3bee3.ppt 819Kb ppt 193 233
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