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標題Title: Non-destructive testing of crystalline silicon photovoltaic back-contact modules
作者Authors: 郭怡彣
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2012-1-4
上傳者Author: 郭怡彣
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 林克默
檔案類型Categories: 課堂報告In-class Report
關鍵詞Keyword: EL,紅外線熱影像儀,X-ray,超音波
摘要Abstract: 在PV模組性能的分析上,常用且快速的非破壞性檢測方法包含光-電流-電壓 (快閃測試)、 EL、紅外線熱影像儀的量測。
其他方法像是超音波檢測和X-ray掃描檢測已應用在背接觸模組的非破壞性檢測。

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2012_1_8ce37cb0.ppt 1364Kb ppt 265 107
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