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標題Title: 近場光學 工作模式與量測方式-林茂勝
作者Authors: 許藝菊
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2012-1-5
上傳者Author: 許藝菊
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 許藝菊
檔案類型Categories: 課堂報告In-class Report
關鍵詞Keyword: 近場光學顯微鏡
摘要Abstract: 近場光學的基本原理,即是在遠小於光波長的距離下,作光學的量測與觀察,以避免在遠場,也就是量測距離大於光波長時,由於光的波動性質引起的繞射現象所造成的繞射極限的限制。

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2012_1_98882b93.doc 141Kb doc 226 80
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