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標題Title: 微奈米量測技術:近場光學顯微鏡
作者Authors: 許晉維
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2012-1-9
上傳者Author: 許晉維
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 許藝菊
檔案類型Categories: 課堂作業Class Assignment
關鍵詞Keyword: 微奈米量測技術:近場光學顯微鏡
摘要Abstract: 近場光學的基本原理,即是在遠小於光波長的距離下,作光學的量測與觀察,以避免在遠場,也就是量測距離大於光波長時,由於光的波動性質引起的繞射現象所造成的繞射極限的限制。掃描式近場光學顯微儀,理論上能提供樣品表面上小至分子尺寸,或極其區域的超高空間解析度光學訊息,其光學顯微影像的對比機制繁多,包括光偏振性、相位、波長、螢光性及影像光譜等,不但具有一般光學顯微鏡的諸多優點,又有接近於電子顯微鏡的超高解析度。目前近場光學顯微術的應用已成功地獲得許多前所未能測得或應用到的新境界,預期此一新技術將被大量且訊速地應用在生物、醫學、半導體、光電及高分子材料等的研究與應用,尤其是在奈米科學與技術的發展上。

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2012_1_78ffa2ba.doc 442Kb doc 221 138
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