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標題Title: TEM上機實習Sns報告
作者Authors: 許晉維,王者璿..等
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2012-1-9
上傳者Author: 許晉維
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 許藝菊
檔案類型Categories: 課堂作業Class Assignment
關鍵詞Keyword: TEM上機實習Sns報告
摘要Abstract: TEM是藉由穿透電子束打至試片,再經放大成像,因此,TEM試片其所要觀察的區域薄度,必需達到電子束能穿透的等級;穿透試片的薄度,必須在2Å以下。由於TEM具備超高解像能力,在一般影像觀察上即比其他分析工具優越許多,而依實際操作時可放大的倍率範圍來看,TEM也具有相當大的彈性,應用到小尺度奈米材料的研究、分析。

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2012_1_8e4dc1a6.doc 1928Kb doc 174 40
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