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標題Title: Variation of Electrostatic Discharge Robustness Induced by the_3
作者Authors: 邱裕中
上傳單位Department: 電子工程系
上傳時間Date: 2012-12-5
上傳者Author: 邱裕中
審核單位Department: 電子工程系
審核老師Teacher: 邱裕中
檔案類型Categories: 研究生論文報告Thesis
關鍵詞Keyword: ESD
摘要Abstract: Due to the insulating feature of sapphire substrates, it is very important to improve electrostatic discharge (ESD) reliability of nitride-based devices.

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