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標題Title: 鈰基塊狀金屬玻璃低溫電阻量測
作者Authors: 林開政,王嘉慶1、鄭玉珠1、林開政2、吳清水3..等
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2010-6-30
上傳者Author: 林開政
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 林開政
檔案類型Categories: 論文Thesis
關鍵詞Keyword: 金屬玻璃、電阻、相變
摘要Abstract: 本文研究以鈰金屬(Ce)為基底所組成的塊狀金屬玻璃的結構與低溫(10~325K)電性。我們使用氬氣電弧爐製作Ce70AlXCu(30-x) (x = 5, 10, 15, 20)一系列的塊狀金屬玻璃合金,針對材料進行結構分析與低溫下電阻量測,由X-RAY量測結果顯示,所有的樣品的X-RAY繞射光譜並沒有特殊尖銳的繞射峰,這顯示樣品不具有長程有序結構,也就是形成了金屬玻璃態(或是非晶結構amorphous)。使用封閉式低溫電阻量測系統(Closed-Cycle Refrigerator)來量測各個樣品的低溫電阻,發現此材料的電阻率比一般純金屬材料的電阻率高了約兩個數量級;一般金屬材料的電阻率隨溫度下降而線性降低,在很低溫時電阻率隨著降溫而降低情形會減緩,在最低溫時留下殘餘電阻;我們所製作出來的鈰基塊狀金屬玻璃在低溫下的電阻行為與前述隨著溫度變化的行為此並不相同,隨著溫度降低,可以明確的觀察到樣品大約在50~100K以上與以下的不同溫區,電阻率隨著溫度降低而有不同的減少趨勢,這說明了樣品在低溫下出現了不同的相,使得電阻率隨溫度變化行為不同;由量測到的數據顯示,相變化溫度大約在50~100K溫區之間發生,推測可能是含有磁矩的鈰離子,在低溫之下形成磁相變所導致。當鋁的含量增加時,其電阻率並不會降低,這表示影響樣品低溫電性的原因,並不是由於自由電子濃度來主宰,要決定影響電阻率的因素,必須要透過其他的實驗來探討,例如磁阻量測實驗。

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