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標題Title: 太陽能模組IV 特性量測設備與參考晶片之研發
作者Authors: 林克默
上傳單位Department: 機械工程系
上傳時間Date: 2009-11-17
上傳者Author: 林克默
審核單位Department: 機械工程系
審核老師Teacher: 林克默
檔案類型Categories: 專題報告Project Report
關鍵詞Keyword: IV特性量測
摘要Abstract: 目前台灣太陽能產業正蓬勃發展,除了最上游矽原料廠因投資成本相當高,少數有能力廠商尚在評估外,晶片製造、模組封裝及PV 系統廠等投資案都熱烈進行中。此時正是太陽能產業相關檢測設備的開發恰當時機,也是值得重視的課題。目前專業用檢測設備對於中小企業而言投資成本負擔過大,而造成產業在發展上受阻。本計劃將過去所開發完成之太陽光電模組測試平台,配合使用參考晶片以降低設備製作成本。專業用檢測設備多使用人工模擬
光源、高速量測電路及高精度日射儀,其中人工光源便佔了成本的四成至七成之間。本計劃採用自然光源並以自製參考晶片取代攜帶不便的日射儀,以大幅降低製作成本,以及提高儀器的操作性。本計畫開發之太陽能模組特性曲線量測儀器,除了包含基本IV 曲線量測功能外,亦可估計系統內電阻的變化。實驗顯示,只要建立校正曲線,參考晶片可應付大部分情況的要求。本儀器介面主要採用LabView®程式來架構,並將操作過程客製化以符合廠商需
求。硬體部分採用模組化組件,電子負載組件或量測電路,NB 或嵌入式電腦,廠商可依客戶需求彈性組裝。合作廠商只要投資少量的資金即可達到生產各類測試儀器的目的,增加產業競爭力,並提升國內太陽能產業的技術水準與競爭力。

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